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藤井 健太郎; 赤松 憲; 横谷 明徳
Radiation Research, 161(4), p.435 - 441, 2004/04
被引用回数：14 パーセンタイル：37.73(Biology)DNAの放射線損傷のメカニズムを解明するため、直接イオン化や放射線トラックに生じた二次電子によって受ける損傷を調べることは、重要な課題である。本研究では軟X線照射によって引き起こされるDNA中の特定サイトで起こる分子フラグメントを観測することを試みた。実験はSPring-8原研専用ビームラインBL23SUにおいて行い、軟X線照射によって得られる、表面脱離イオンを四重極質量分析器によって観測した。試料としてDNA構成分子である、デオキシリボース,チミン,チミジンTMPを用い、得られたフラグメントのパターンから、DNA分子中では糖のサイトが脆弱部位であることが明らかになった。
横谷 明徳; 渡辺 立子*; 原 岳広*
Journal of Radiation Research, 40(2), p.145 - 158, 1999/00
被引用回数：49 パーセンタイル：81.36(Biology)本論文は、放射光を単色化して得られる超軟X線領域のPhoton、338eV,435eV及び573eVを、固相のプラスミドDNA(pBR322)に照射し、単鎖切断、二重鎖切断の頻度を測定したものである。鎖切断頻度は三つの波長で大きな違いは見られなかったが、
線や2keV軟X線のそれと比べて大きかった。この結果は、放射線生物照射効果に1keV以下のエネルギーが大きく効いていることを示すものである。
